Ano ang katumpakan ng electron at light microscopy, ayon sa pagkakabanggit

Ang katumpakan ng mga mikroskopyong elektron at optikal ay nag-iiba depende sa uri at disenyo, gaya ng sumusunod:

Katumpakan ng mikroskopyo ng elektron

Transmission electron microscopy (TEM): Sa kasalukuyan, ang katumpakan ng resolusyon ng transmission electron microscopy ay nakapagresolba na ng mga istrukturang mas mababa sa 0.2μm, at ang polar limit resolution ay maaaring umabot sa 0.1nm. Halimbawa, ang ilang magagaling na transmission electron microscope ay may resolusyon na 1.5 hanggang 2A (1A = 0.1nm), na kayang magresolba ng halos lahat ng atomo.

Scanning electron microscopy (SEM): Karaniwang nakakamit ang spatial resolution na 1μm³, bagaman maaaring mag-iba ang katumpakan depende sa uri ng kagamitan at mga kondisyon ng pagtingin.

Katumpakan ng mikroskopya ng liwanag

Pangkalahatang mikroskopya na optikal: ang limitasyon ng resolusyon nito ay karaniwang humigit-kumulang 250nm, na 1 milyong beses na mas mataas kaysa sa resolusyon ng mata ng tao (0.25mm). Gayunpaman, ang resolusyon at pagpapalaki ng mikroskopya na optikal ay maaaring mapabuti nang malaki sa pamamagitan ng paggamit ng mga lente na may mataas na katumpakan at mga pamamaraang optikal.

Mataas na katumpakan na optical microscope: tulad ng optical digital microscope, ang katumpakan ng resolusyon nito ay maaaring umabot sa 0.1μm, at ang magnification ay hanggang 5000 beses. Bukod pa rito, may mga high-precision analytical instrument na nakabatay sa prinsipyo ng white light interference tulad ng three-dimensional optical microscopy, na maaaring makamit ang pagsukat ng surface topography na may subnanometer resolution.

Espesyal na optical microscopy: tulad ng optical nanoscopy na may 2nm positioning accuracy, tulad ng teknolohiyang MINFLUX, na nagmamarka na ang nanoscale resolution microscopy ay opisyal nang pumasok sa larangan ng pananaliksik sa agham ng buhay.